Residual stress characterization of welds using x-ray diffraction techniques /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Pineault, James A.
مؤلفون آخرون: Brauss, Michael E., Eckersley, John S.
التنسيق: مقال
اللغة:الإنجليزية
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

MARC

LEADER 00000naa a2200000 a 4500
001 vtls000593510
003 PNM
005 20091109145800.0
008 091109s1996 my g o100 0 eng
015 |a M97-1556 
015 |a IPM1996 
039 9 |y 200911091458  |z norliar 
049 0 0 |a ipm 
090 |a 620.11272  |b ASI  |c f  |d M 
100 1 |a Pineault, James A. 
245 1 |a Residual stress characterization of welds using x-ray diffraction techniques /  |c James A. Pineault, Michael E. Brauss, John S. Eckersley 
700 1 |a Brauss, Michael E. 
700 1 |a Eckersley, John S. 
773 |7 m2am  |w (PNM)000228910  |a Asian Conference on X-Rays and Related Techniques in Research and Industry (ACXRI'96) ( 1996 : Ipoh, Perak)  |d Tronoh, Perak :; Pusat Pengajian Kejuruteraan Bahan & Sumber Mineral, Universiti Sains Malaysia,; 1996  |t PROCEEDINGS ASIAN CONFERENCE ON X-RAYS AND RELATED TECHNIQUES IN RESEARCH AND INDUSTRY (ACXRI '96), 6-8 June 1996, held at Casuarina Hotel, Ipoh, Malaysia  |z 9839700405 (pbk.) :  |g p. 97-106 
999 |a VIRTUA40 
999 |a VTLSSORT0080*0150*0151*0490*0900*1000*2450*7000*7001*7730*9991