استشهادات التسجيلة

توثيق جمعية علم النفس الأمريكية APA (الطبعة السابعة)
Dennis, J. O., Farooq Ahmad, M. Haris Md Khir, & Nor Hisham Hamid. Analysis of Bonding Failure in CMOS MEMS Chips.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)
Dennis, John Ojur, Farooq Ahmad, M. Haris Md Khir, و Nor Hisham Hamid. Analysis of Bonding Failure in CMOS MEMS Chips.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)
Dennis, John Ojur, et al. Analysis of Bonding Failure in CMOS MEMS Chips.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.