மூடுப்படம்

Impact of a single impurity on I-V characteristics of a nano-FET /

சேமிக்கப்பட்டது:
முதன்மை ஆசிரியர்: Raheel Shah
வடிவம்: கட்டுரை
மொழி:ஆங்கிலம்
பொருள்கள்:
Engineering > Research > Congresses
குறிச்சொற்கள்: குறிச்சொல்லை சேர்க்கவும்
டாக்‌ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!
கருத்து இடும் முதல் நபராக இருங்கள்!
முதலில் உள்நுழைய வேண்டும்

ஒத்த வளங்கள்