صورة الغلاف

Environmentally assisted reliability study of externally actuated MEMS devices /

محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: M. Tariq Jan (مؤلف), Nor Hisham Hamid (مؤلف), Mohd. Haris Md. Khir (مؤلف), Khalid Ashraf (مؤلف), Muhammad Shoaib (مؤلف)
التنسيق: مقال
اللغة:الإنجليزية
الموضوعات:
Electrical engineering
Microelectromechanical systems
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
كن أول من يترك تعليقا!
يجب تسجيل دخولك أولا

مواد مشابهة