تخطي إلى المحتوى
VuFind
تسجيل الدخول
ثيمة
Bootstrap
Perak
اللغة
English
中文(简体)
اللغة العربية
தமிழ்
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الاستدعاء
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
Residual stress characterizati...
استشهد بهذا
أرسل هذا في رسالة قصيرة
أرسل هذا بالبريد الإلكتروني
طباعة
تصدير التسجيلة
تصدير إلى RefWorks
تصدير إلى EndNoteWeb
تصدير إلى EndNote
أضف إلى المفضلة
رابط دائم
Residual stress characterization of welds using x-ray diffraction techniques /
محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي:
Pineault, James A.
مؤلفون آخرون:
Brauss, Michael E.
,
Eckersley, John S.
التنسيق:
مقال
اللغة:
الإنجليزية
الوسوم:
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المقتنيات
الوصف
التعليقات
مواد مشابهة
عرض للأخصائي
كن أول من يترك تعليقا!
تعليقك
يجب تسجيل دخولك أولا
مواد مشابهة
Mechanical characterisation of surface layers by x-ray diffraction - application to tribology /
حسب: Farrahi, G.H
Determination of molecular packing in langmuir-blodgett films by x-ray diffraction /
حسب: Noraini M. Mohamed
Application of X-ray diffraction techniques to the understanding of the dry sliding wear behaviour of aluminum and titanium /
حسب: Farhat, Zoheir N.
A study on the phase transfornation of MgO-P205 glass by x-ray diffraction /
حسب: M. R. Sahar
Investigation of x-ray energy for computed tomography using film technique /
حسب: Somyot Srisatit