உள்ளடக்கத்திற்கு செல்லவும்
VuFind
உள்நுழை
தோற்றம்
Bootstrap
Perak
மொழி
English
中文(简体)
اللغة العربية
தமிழ்
அனைத்து புலங்கள்
தலைப்பு
ஆசிரியர்
பொருள்
அழைப்பு எண்
ISBN / ISSN
குறிச்சொல்
தேடு
மேம்பட்ட
Residual stress characterizati...
இதனை மேற்கோள் கொள்ளவும்
இதனை SMS ஆக அனுப்பவும்
இதனை மின்னஞ்சல் செய்யவும்
அச்சிடு
பதிவை ஏற்றுமதி செய்யவும்
RefWorks க்கு ஏற்றுமதி
EndNoteWeb க்கு ஏற்றுமதி
EndNote க்கு ஏற்றுமதி
பிடித்தவற்றில் சேர்க்கவும்
நிலையான இணைப்பு
Residual stress characterization of welds using x-ray diffraction techniques /
சேமிக்கப்பட்டது:
நூற்பட்டியல் விவரங்கள்
முதன்மை ஆசிரியர்:
Pineault, James A.
மற்ற ஆசிரியர்கள்:
Brauss, Michael E.
,
Eckersley, John S.
வடிவம்:
கட்டுரை
மொழி:
ஆங்கிலம்
குறிச்சொற்கள்:
குறிச்சொல்லை சேர்க்கவும்
டாக்ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!
ஹோல்டிங்ஸ்
விளக்கம்
கருத்துகள்
ஒத்த வளங்கள்
பணியாளர் காட்சி
ஒத்த வளங்கள்
Mechanical characterisation of surface layers by x-ray diffraction - application to tribology /
மூலம்: Farrahi, G.H
Determination of molecular packing in langmuir-blodgett films by x-ray diffraction /
மூலம்: Noraini M. Mohamed
Application of X-ray diffraction techniques to the understanding of the dry sliding wear behaviour of aluminum and titanium /
மூலம்: Farhat, Zoheir N.
A study on the phase transfornation of MgO-P205 glass by x-ray diffraction /
மூலம்: M. R. Sahar
Investigation of x-ray energy for computed tomography using film technique /
மூலம்: Somyot Srisatit