تخطي إلى المحتوى
UTP PerakGateway
Information Resource Centre
تسجيل الدخول
ثيمة
Bootstrap
Perak
اللغة
English
中文(简体)
اللغة العربية
தமிழ்
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الاستدعاء
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
Advances in low atomic number...
استشهد بهذا
أرسل هذا في رسالة قصيرة
أرسل هذا بالبريد الإلكتروني
طباعة
تصدير التسجيلة
تصدير إلى RefWorks
تصدير إلى EndNoteWeb
تصدير إلى EndNote
أضف إلى المفضلة
رابط دائم
Advances in low atomic number element analysis by wavelength dispersive x-ray fluorescence spectrometry /
محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي:
Vrebos, Bruno
التنسيق:
مقال
اللغة:
الإنجليزية
الوسوم:
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المقتنيات
الوصف
التعليقات
مواد مشابهة
عرض للأخصائي
مواد مشابهة
Real-time digital x-ray radioscopic inspection system
حسب: M.H. Ahmad Fadzil
Investigation of x-ray energy for computed tomography using film technique /
حسب: Somyot Srisatit
The comparison of neutron, gamma and x-ray radiography images for materials evaluation /
Residual stress characterization of welds using x-ray diffraction techniques /
حسب: Pineault, James A.
Mechanical characterisation of surface layers by x-ray diffraction - application to tribology /
حسب: Farrahi, G.H