மூடுப்படம்

Analysis of Bonding Failure in CMOS MEMS Chips /

சேமிக்கப்பட்டது:
முதன்மை ஆசிரியர்கள்: Dennis, John Ojur (Author), Farooq Ahmad (Author), M. Haris Md Khir (Author), Nor Hisham Hamid (Author)
வடிவம்: கட்டுரை
மொழி:ஆங்கிலம்
பொருள்கள்:
Electrical engineering > Congresses
Electronic engineering > Congresses
குறிச்சொற்கள்: குறிச்சொல்லை சேர்க்கவும்
டாக்‌ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!

ஒத்த வளங்கள்